| Quantité Minimale De Commande: | 1 ensemble |
| Prix: | Négociable |
| Emballage Standard: | Emballage en contreplaqué |
| Délai De Livraison: | 5~8 jours ouvrables |
| Mode De Paiement: | LC, T/T |
| Capacité D'approvisionnement: | 500 ensembles/mois |
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Description du produit
Le microscope Raman confocal CRM-5 est un instrument de test Raman de niveau de recherche équipé d'une plate-forme automatique en trois dimensions.La voie optique du véritable microscope confocal garantit que les images spectrales les plus détaillées peuvent être obtenues rapidement et avec précision.
Le modèle MRS-5 a optimisé la conception de la voie optique afin d'assurer la plus haute sensibilité du marché,en tenant compte de la résolution spatiale pour atteindre la limite de diffraction tout en assurant le débit lumineux élevé de l'instrumentCombiné avec le système d'exploitation logiciel développé par l'entreprise, le processus de test Raman est plus pratique, plus rapide et plus convivial.
Caractéristiques
Distance focale de 800 mm, haute résolution spatiale et spectrale
La plateforme 3D entièrement automatique permet une numérisation automatique rapide des cartes
Les capacités d'imagerie Raman confocale
Actifs de détection des éclaboussures
La phase d'échantillonnage ouvert peut répondre aux besoins d'essai des échantillons de différentes formes et volumes.
Détection du nombre d'ondes ultra-faible
Évolutif pour une utilisation avec une variété d'autres technologies d'essai
Large gamme d'applications
Faible entretien et facile à utiliser
Extension de la fonction
Multilaser en option, adapté à différents types d'échantillons et optimisant les résultats expérimentaux
Peut être combiné avec Raman AFM et TERS (Raman avec pointe améliorée)
Base de données Raman professionnelle facultative pour une identification et une analyse rapides
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Spécification techniques
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Modèle |
Le CRM-5 |
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méthode de mesure |
Tests qualitatifs/semi-quantitatifs |
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Laser (longueur d'onde d'excitation) |
532 nm (633 nm, 785 nm évolutifs) |
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Plage spectrale |
50Je ne sais pas.7 000 cm-1 |
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Résolution spectrale |
Mieux que 1,5 cm à 1 |
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Précision de la longueur d'onde |
≤ ±1 cm à 1 |
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Sensitivité |
Le pic de quatrième ordre du silicium peut être observé |
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résolution spatiale |
axes X/Y: 0,01 μm, Axe Z: 0,002 μm (en rapport avec le rapport de réduction de l'engrenage de réglage fin du microscope) |
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Taille du détecteur de spectre CCD |
26.6 × 3,2 mm |
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Les pixels efficaces |
1650 × 200 |
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Taille des pixels |
16 × 16 μm |
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trou d'épingle confocal |
50 μm, 150 μm, 200 μm, 400 μm |