| MOQ: | 1 Instellen |
| Prijs: | Bespreekbaar |
| Standaard Verpakking: | Multiplex verpakking |
| Levertijd: | 5~8 werkdagen |
| Betaalmethode: | L/C, T/T |
| Leveringscapaciteit: | 500 sets/maand |
![]()
Productomschrijving
De CRM-5 confocale Raman microscoop is een Raman testinstrument op onderzoeksniveau, uitgerust met een driedimensionaal automatisch platform. Het echte confocale microscoop optische pad zorgt ervoor dat de meest gedetailleerde spectraalbeelden snel en nauwkeurig kunnen worden verkregen.
Het MRS-5 model heeft het optische padontwerp geoptimaliseerd om ervoor te zorgen dat het de hoogste gevoeligheid op de markt heeft, rekening houdend met de ruimtelijke resolutie om de diffractielimiet te bereiken en tegelijkertijd de hoge lichtdoorvoer van het instrument te garanderen. In combinatie met het zelf ontwikkelde software besturingssysteem is het Raman testproces handiger, sneller en gebruiksvriendelijker.
Kenmerken
800 mm brandpuntsafstand, hoge ruimtelijke en hoge spectrale resolutie
Volledig automatisch 3D-platform maakt snel automatisch scannen van mapping mogelijk
Echte confocale Raman beeldvormingsmogelijkheden
Softwaregestuurde automatische variabele pinhole
Open monsterstage kan voldoen aan de testbehoeften van monsters van verschillende vormen en volumes.
Ultra-laag golfgetal detectie
Schaalbaar voor gebruik met een verscheidenheid aan andere testtechnologieën
Breed scala aan toepassingen
Weinig onderhoud en eenvoudig te gebruiken
Functie-uitbreiding
Optionele multi-laser, geschikt voor verschillende soorten monsters en het optimaliseren van experimentele resultaten
Kan worden gecombineerd met Raman AFM en TERS (tip enhanced Raman)
Optionele professionele Raman database voor snelle identificatie en analyse
![]()
![]()
Technische specificaties
|
Model |
CRM-5 |
|
meetmethode |
Kwalitatief/semi-kwantitatief testen |
|
Laser (excitatiegolflengte) |
532nm (633nm, 785nm schaalbaar) |
|
Spectraal bereik |
50~7000cm-1 |
|
Spectrale resolutie |
Beter dan 1,5cm-1 |
|
Golflengte nauwkeurigheid |
≤±1cm-1 |
|
Gevoeligheid |
De vierde-orde piek van silicium kan worden waargenomen |
|
ruimtelijke resolutie |
X/Y-as: 0,01μm, Z-as: 0,002μm (gerelateerd aan de fijnregeling reductieverhouding van de microscoop) |
|
CCD spectrum detector grootte |
26,6×3,2mm |
|
Effectieve Pixels |
1650×200 |
|
Pixelgrootte |
16×16μm |
|
confocale pinhole |
50μm, 150μm, 200μm, 400μm |