Yüksek Hızlı TPS Isı İletilebilirliği Denetleyicisi Isı Direnci Ölçüm Aygıtları

TCT-S ısı iletkenliği test cihazı

Ürünün tanıtımı

TCT-S, geçici ısı kaynağı yöntemi termal iletkenlik ölçeridir. Yeni bir görünüm tasarımı benimser, basit ve kompakttır ve bir denge ile donatılmıştır.Hızlı ölçüm hızının avantajlarına sahiptir., basit işletim ve geniş uygulama alanı.

Geçici düzlük ısı kaynağı (TPS) termal iletkenlik testçisi, çeşitli malzemelerin türlerinin ve şekillerinin termal iletkenliğini test etmek için kullanılabilir.Geçici düzlük ısı kaynağı yöntemi, termal iletkenlik performansını incelemek için yeni bir yöntemdir, ölçüm teknolojisini yeni bir seviyeye taşıyor. Malzemeleri incelerken ısı iletkenliğini hızlı ve doğru bir şekilde ölçebiliyor.Kurumsal kalite izleme için büyük bir kolaylık sağlayan, malzeme üretimi ve laboratuvar araştırması.

Ana test nesneleri

Malzeme Türü: metaller, seramik, alaşımlar, mineraller, polimerler, kompozitler, kağıt, kumaş, köpük (düz yüzey yalıtım malzemeleri, metal tabakası), poliüretan, fenolik, üreya-formaldehit,Mineral yün (şüşe yün), kaya yünü, mineral yün), çimento duvarları, camla desteklenmiş kompozit paneller CRC, çimento polistiren plakaları, sandviç betonu, cam ve çelik paneller kompozit plakalar, kağıt bal sapı panelleri.

Özellikleri

•  Test aralığı geniş ve test performansı istikrarlıdır. Benzer yerli cihazlar arasında öncelik seviyesindedir.
•  Doğrudan ölçüm, test süresi yaklaşık 5-160s olarak ayarlanabilir, bu da çok fazla zaman tasarrufu sağlayarak ısı iletkenliğini hızlı ve doğru bir şekilde ölçebilir;
•  Statik yöntem gibi temas termal direnci tarafından etkilenmez.
•  Özel bir örnek hazırlaması gerekmez ve numunenin şekli için özel bir gereklilik yoktur.Toplu katı sadece nispeten pürüzsüz bir örnek yüzeyine sahip olması ve sondanın çapının en az iki katı olan uzunluk ve genişliğe sahip olması gerekir.;
•  Örneklerin yıkıcı olmayan test edilmesi, örneklerin tekrar kullanılabilmesi anlamına gelir.
•  Sonde, özel matematiksel model ile birleştirilen çift spiral yapısı ile tasarlanmıştır ve çekirdek algoritması, sondada toplanan verileri analiz etmek ve hesaplamak için kullanılır.
•  Örnek tablosunun yapı tasarımı zekice, kullanımı kolay, farklı kalınlıklarda numunelerin yerleştirilmesi için uygundur ve aynı zamanda basit ve güzeldir;
•  Sonda üzerindeki veri alımında ithal bir veri alma çipi kullanılır. Çipin yüksek çözünürlüğü test sonuçlarını daha doğru ve güvenilir hale getirebilir;
•  Ev sahibi kontrol sistemi, geleneksel mikroprosesörlerden daha hızlı bir hesaplama hızına sahip, sistemin analiz ve işleme yeteneklerini geliştiren bir ARM mikroprosesörü kullanır.ve hesaplama sonuçlarını daha doğru yapar;
•  Enstrüman, blok katı maddeler, pasta katı maddeler, granüler katı maddeler, kolloidler, sıvılar, tozlar, kaplamalar, filmler,ve ısı yalıtım malzemeleri;
•  Akıllı insan-makine arayüzü, renkli LCD ekran ekranı, dokunmatik ekran kontrolü, uygun ve basit çalışma;
•  Güçlü veri işleme yetenekleri. Yüksek otomatik bilgisayar veri iletişim ve rapor işleme sistemi

Referans standardı

ISO22007-22008

Teknik parametreler

Not: 1 numaralı probun ölçümü, daha ince bir kalınlığa sahip düşük iletkenlik malzemesidir (λ≤0.2W/(m*K). Eğer test edilen numunenin yüzeyi pürüzsüz, düz ve viskozsa, numuneler üst üste konulabilir.

SAMPLE testi