Peralatan Pengukuran Rintangan Termal Penguji Konduktivitas Termal TPS Kecepatan Tinggi

Tester Konduktivitas Termal TCT-S

Pengenalan produk

TCT-S adalah pengukur konduktivitas termal metode sumber panas sementara.Ini memiliki keuntungan kecepatan pengukuran cepat, operasi sederhana, dan berbagai aplikasi.

Tester konduktivitas termal sumber panas pesawat transisi (TPS) dapat digunakan untuk menguji konduktivitas termal berbagai jenis dan bentuk bahan.Metode sumber panas pesawat transient adalah metode baru untuk mempelajari kinerja konduktivitas panas, yang membawa teknologi pengukuran ke tingkat yang baru.yang memberikan kenyamanan besar untuk pemantauan kualitas perusahaan, produksi bahan dan penelitian laboratorium.

Objek uji utama

Jenis bahan: logam, keramik, paduan, mineral, polimer, komposit, kertas, kain, busa (bahan isolasi permukaan datar, lembaran logam), poliuretan, fenolik, urea-formaldehida,wol mineral (wool kaca), wol batu, wol mineral), dinding semen, panel komposit diperkuat kaca CRC, lempeng polystyrene semen, beton sandwich, panel kaca dan baja lempeng komposit, panel honeycomb kertas.

Fitur

•  Jangkauan ujiannya luas dan kinerja ujiannya stabil.
•  Pengukuran langsung, waktu uji dapat diatur sekitar 5-160s, yang dapat dengan cepat dan akurat mengukur konduktivitas panas, menghemat banyak waktu;
•  Tidak akan terpengaruh oleh ketahanan termal kontak seperti metode statis;
•  Tidak diperlukan persiapan sampel khusus, dan tidak ada persyaratan khusus untuk bentuk sampel.Padat bulk hanya perlu memiliki permukaan sampel yang relatif halus dan memenuhi panjang dan lebar setidaknya dua kali diameter probe;
•  Pengujian sampel yang tidak merusak berarti bahwa sampel dapat digunakan kembali;
•  Sonde dirancang dengan struktur spiral ganda, dikombinasikan dengan model matematis eksklusif, dan algoritma inti digunakan untuk menganalisis dan menghitung data yang dikumpulkan pada probe;
•  Desain struktur tabel sampel adalah cerdik, mudah dioperasikan, cocok untuk menempatkan sampel dengan ketebalan yang berbeda, dan pada saat yang sama sederhana dan indah;
•  Akuisisi data pada probe menggunakan chip akuisisi data yang diimpor. Resolusi tinggi chip dapat membuat hasil tes lebih akurat dan dapat diandalkan;
•  Sistem kontrol host menggunakan mikroprosesor ARM, yang memiliki kecepatan perhitungan yang lebih cepat daripada mikroprosesor tradisional, meningkatkan kemampuan analisis dan pemrosesan sistem,dan membuat hasil perhitungan lebih akurat;
•  Instrumen dapat digunakan untuk penentuan parameter termofisika seperti blok padat, pasta padat, padat granular, koloid, cairan, bubuk, lapisan, film,dan bahan isolasi panas;
•  Antarmuka manusia-mesin yang cerdas, layar LCD berwarna, kontrol layar sentuh, operasi yang nyaman dan sederhana;
•  Kemampuan pemrosesan data yang kuat.

Standar referensi

ISO22007-22008

Parameter teknis

Catatan: Pengukuran probe No. 1 adalah bahan konduktivitas rendah dengan ketebalan yang lebih tipis (λ≤0,2W/(m*K)), Jika permukaan sampel yang diuji halus, datar dan kental, sampel dapat ditumpuk.

SPengujian Ample