|
دستگاه خودکار اندازهگیری ثابت دیالکتریک 10 کیلوهرتز - 100 مگاهرتز، تستر ثابت دیالکتریک DCT501
| حداقل مقدار سفارش: | 1 مجموعه |
| قیمت: | قابل مذاکره |
| بسته بندی استاندارد: | بسته بندی تخته سه لا |
| دوره تحویل: | 5 تا 8 روز کاری |
| روش پرداخت: | L/C، T/T |
| ظرفیت تامین: | 500 مجموعه در ماه |
دستگاه اندازهگیری ثابت دیالکتریک 10 کیلوهرتز,دستگاه خودکار اندازهگیری ثابت دیالکتریک,تستر ثابت دیالکتریک 100 مگاهرتز
,Automatic Dielectric Constant Meter
,100MHZ Dielectric Constant Tester
تستر ثابت دیالکتریک DCT501
مقدمه
اتلاف متوسط و ثابت دیالکتریک یک ویژگی فیزیکی مهم برای موادی مانند اکسید فلز، تخته، چینی (سفال)، میکا، شیشه، پلاستیک و غیره است. از طریق اندازهگیری، عوامل مختلف اتلاف دیالکتریک و ثابت دیالکتریک را میتوان بیشتر درک کرد و شرایط را برای بهبود خواص مواد فراهم کرد. این تجهیزات برای تحقیقات کاربردی خواص مواد جدید فلزی غیرآلی در موسسات تحقیقات علمی، مدارس، کارخانهها و سایر موسسات استفاده میشود.
دامنه کاربرد
اندازهگیری ثابت دیالکتریک و ضریب اتلاف دیالکتریک مواد عایق (مقدار تانژانت اتلاف)
فناوری منحصر به فرد
به طور خودکار اندوکتانس باقیمانده و اندوکتانس سیم تست را کسر میکند. دقت اندازهگیری را به طور قابل توجهی بهبود میبخشد.
مقدار ظرفیت خازنی بزرگ مستقیماً اندازهگیری و نمایش داده میشود.
دستگاه اندازهگیری میکروسکوپی دیجیتال، خواندن مستقیم.
ویژگیها:
عملکرد نمایش اندازهگیری مستقیم مقدار ظرفیت خازنی بزرگ: مقدار اندازهگیری شده تا 25 نانوفاراد
ضریب اتلاف دیالکتریک: دقت: 1/10000 / نمایش مستقیم LCD
ثابت دیالکتریک: دقت: یک هزارم / نمایش مستقیم LCD
ضخامت تست مواد: 0.1 میلیمتر-10 میلیمتر
استاندارد مرجع
GB/T1693-2007
پارامتر فنی
|
مدلDCT501 |
محدوده منبع سیگنال سیگنال سنتز دیجیتال DDS |
|
10KHZ-100MHZ |
نسبت پوشش فرکانس منبع سیگنال |
|
7000 |
:1 دقت فرکانس منبع سیگنال 6 رقم معتبر |
|
3×10-5 ±1 کلمه |
دقت نمونهبرداری |
|
نمونهبرداری AD با دقت بالا 12BIT پایداری مقدار Q و پایداری تست مواد با اتلاف دیالکتریک کم را تضمین میکند |
محدوده اندازهگیری Q |
|
1-1000 محدوده خودکار/دستی |
رزولوشن Q |
|
4 رقم معتبر، رزولوشن 0.1 |
خطای کار اندازهگیری Q |
|
<5% |
محدوده اندازهگیری اندوکتانس 4 رقم معتبر، رزولوشن 0.1nH |
|
1nH-140mH رزولوشن 0.1nH |
خطای اندازهگیری اندوکتانس |
|
<3% |
خازن تنظیم |
|
خازن اصلی 17-240pF (یک بدنه قالبگیری نقرهاندود، دقت بالا) |
جستجوی خودکار خازن |
|
بله (با موتور پلهای) |
محدوده اندازهگیری ظرفیت خازنی مستقیم |
|
1pF |
～25nFخطای ظرفیت خازنی تنظیم |
|
±1 pF یا |
<1%رزولوشن |
|
0.1pF |
جستجوی نقطه رزونانس |
|
اسکن خودکار |
محدوده پیشتنظیم Q واجد شرایط |
|
5-1000 صدای و نور |
تغییر محدوده Q |
|
خودکار/دستی |
پارامترهای نمایشگر LCD |
|
F, L, C, Q, Lt, Ct, Er, Tn و غیره |
اندوکتانس باقیمانده و اندوکتانس سیم تست |
|
بله |
عملکرد کسر خودکار |
|
بله |
عملکرد اندازهگیری و نمایش مستقیم مقدار ظرفیت خازنی بزرگمقدار اندازهگیری شده میتواند به 25 نانوفاراد برسد |
|
فاکتور اتلاف دیالکتریک |
دقت 1/10000 / نمایش مستقیم LCD |
|
ثابت دیالکتریک |
دقت 1/1000 / نمایش مستقیم LCD |
|
ضخامت تست مواد |
0.1 میلیمتر-10 میلیمتر |
|
|
|
